Microscope électronique à balayage JEOL
JEOL JSM-6060LA
Principe
Le JSM-IT210 est un microscope électronique à balayage (MEB) compact et polyvalent, conçu pour l’observation détaillée de la surface des matériaux. Il utilise un canon à électrons avec filament de tungstène et offre une résolution jusqu’à 3 nm en mode vide poussé. Grâce à ses modes vide poussé et vide partiel, il permet l’analyse d’échantillons conducteurs et non conducteurs sans préparation complexe.Microscope électronique à balayage (MEB) pour l’observation de surface, la caractérisation de fibres, de fractures, de porosité, d’inclusions et d’interfaces. Équipé de détecteurs SE, BSE et EDS. Utilisable en mode vide poussé ou basse pression (low vacuum).
Fiche techniqueCaractéristiques:
- Utilisation : Observation de surface, microstructure, porosité, fissuration, EDS.
- Dimensions échantillon : 80 × 40 mm
- Hauteur max échantillon : 43 mm
- Résolution : 3.5 nm (30 kV), 20 nm (10 kV)
- Grossissement : ×10 à ×300 000
- Détecteurs : SE, BSE, EDS
- Mode d’observation : Vide poussé, Low vacuum
- Listeing ID: 5709