Microscope électronique à balayage JEOL

 Etudes microscopiques

JEOL JSM-6060LA

Principe

La microscopie électronique à balayage (MEB) est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière. Le principe consiste en un faisceau d’électrons balayant la surface de l’échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certaines particules. Ces particules sont analysées par différents détecteurs qui permettent de reconstruire une image de la surface.

Fiche technique

Dimensions utiles (x,y,z) : 80 x 40 x 50mm
Résolution : 3.5nm (30kV), 20nm (10kV)
Grossissement : x 8 à x 300 000
EDS Detector

 

 

  • Listeing ID: 5709
Contact

Yannick Benoît / Bertrand HuneauHalle d'Essais Procédés Composites,Centrale Nantes - Bât.T 02 40 37 15 24 Yannick.Benoit@ec-nantes.fr

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