Microscope à force atomique (AFM)

 Etudes microscopiques

VEECO EDGE

Principe

Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d’un échantillon. Ce type de microscopie repose essentiellement sur l’analyse d’un objet point par point au moyen d’un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée. Ce mode d’observation permet alors, de réaliser la cartographie locale des grandeurs physiques caractéristiques de l’objet sondé (force, capacité, intensité de rayonnement, courant…).

Fiche technique

Taille max d’échantillon : 150mm x 150mm x 15mm.
Gamme de balayage : 90µm x 90 µm.

 

  • Listeing ID: 5711
Contact

Christian BurtinHalle d'Essais Procédés Composites,Centrale Nantes - Bât.T 02 40 37 16 55 Christian.Burtin@ec-nantes.fr

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