Microscope électronique à balayage JEOL
JEOL JSM-6060LA
Principe
La microscopie électronique à balayage (MEB) est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière. Le principe consiste en un faisceau d’électrons balayant la surface de l’échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certaines particules. Ces particules sont analysées par différents détecteurs qui permettent de reconstruire une image de la surface.
Fiche technique
Dimensions utiles (x,y,z) : 80 x 40 x 50mm
Résolution : 3.5nm (30kV), 20nm (10kV)
Grossissement : x 8 à x 300 000
EDS Detector
- Listeing ID: 5709