Microscope à force atomique (AFM)
VEECO EDGE
Principe
Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d’un échantillon. Ce type de microscopie repose essentiellement sur l’analyse d’un objet point par point au moyen d’un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée. Ce mode d’observation permet alors, de réaliser la cartographie locale des grandeurs physiques caractéristiques de l’objet sondé (force, capacité, intensité de rayonnement, courant…).
Fiche technique
Taille max d’échantillon : 150mm x 150mm x 15mm.
Gamme de balayage : 90µm x 90 µm.
- Listeing ID: 5711