Goniomètre de diffraction des rayons X 4 cercles

 Etudes microscopiques

Seifert – XRD 3003 PTS

Principe

La diffraction des rayons X est une technique non destructrice d’investigation de la matière cristalline. Elle permet d’identifier, de quantifier et de caractériser les organisations structurales moyennes à l’échelle nanométrique (phases cristallines, taille des particules, orientation cristalline, déformation/contrainte, …). L’échantillon à analyser se présente sous forme de poudre, de massif ou de couche mince. Les données collectées sont représentées sous forme d’un graphique appelé diffractogramme. Le choix de l’instrument se fait en fonction de l’application à réaliser. Le diffractogramme constitue l’empreinte caractéristique de la structure cristalline de la substance analysée. Ce dernier est acquis avec un diffractomètre, constitué d’un tube de rayons X (fixe) et d’un système d’échantillon – détecteur (mobile) positionné sur une unité géométrique.

Fiche technique

Tubes en céramique Cu, Cr, Mo, Co.
Détecteur linéaire PSD (Position Sensitive Detector) – 8,6°.
Masse maximale de l’échantillon : 5 kg (2,5 kg avec la platine XY).
Dimensions maximales : 220x220x100 mm3.
Platine de translation XYZ.

Exemples d’applications

Analyses et dosages de phases, austénite résiduelle.
Analyses des contraintes résiduelles.
Détermination des textures cristallographiques.

  

  • Listeing ID: 5560

Les commentaires sont fermés.