Goniomètre de diffraction des rayons X 3 cercles

 Etudes microscopiques

GE-SEIFERT – Calypso XRD

Principe

La diffraction des rayons X est une technique non destructrice d’investigation de la matière cristalline. Elle permet d’identifier, de quantifier et de caractériser les organisations structurales moyennes à l’échelle nanométrique (phases cristallines, taille des particules, orientation cristalline, déformation/contrainte, …). L’échantillon à analyser se présente sous forme de poudre, de massif ou de couche mince. Les données collectées sont représentées sous forme d’un graphique appelé diffractogramme. Le choix de l’instrument se fait en fonction de l’application à réaliser. Le diffractogramme constitue l’empreinte caractéristique de la structure cristalline de la substance analysée. Ce dernier est acquis avec un diffractomètre, constitué d’un tube de rayons X (fixe) et d’un système d’échantillon – détecteur (mobile) positionné sur une unité géométrique.

Fiche technique

Tubes en céramique Cu, Cr, Mo, Co.
Détecteur SDD (Silicon Drift Detector), 1 keV – 30 keV.
Echantillons : masse max. – 2,5 kg, épaisseur max. – 34 mm, diamètre max. – 300 mm.
Platine de translation XYZ.
Géométrie Bragg-Brentano, incidence rasante ou faisceau pseudo-parallèle (collimateurs à fibres optiques avec une taille de spot de 200 microns à 2 mm).

Exemples d’applications

Analyses et dosages de phases, austénite résiduelle.
Analyses des contraintes résiduelles.
Analyse des profils de raies : taille des domaines de diffraction cohérente, micro-déformation.

Contact

David GloaguenPlateforme Diffraction X et Durabilité Composites,IUT Saint-Nazaire - Bât. 17 02 72 64 87 67 *****

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